InView-PL
在线原位荧光光谱仪
≥10Hz 工况采样速率
400~1100nm 吸收覆盖
600~1050nm 荧光覆盖
≥10Hz 工况采样速率
高保真数据
单荧光探头设计
长工作距离
光谱仪选配设计
可选吸收光谱
≥10Hz 工况采样速率
大光斑设计搭配制冷型光谱仪,在 ≤0.1sun 的低激发光强下,仍可兼顾无损检测特性与 ≥10Hz 的采样速率,完全适配工况需求;
高保真数据
每一台 InView-PL 都经过辐照度标定,有效规避诸如探测器响应、光栅衍射效率差异引起的光谱失真,提供真实准确的光谱;
单荧光探头设计
荧光探头激发光出口与荧光接收入口为同一镜头,从设计端保证了采样的原位性,使得在线原位方案的快速实施变得简单
长工作距离:
≥10cm 长工作距离,无设备干涉,CVD 等易污染制程可外置窗口探测,适配手套箱场景。
光谱仪选配设计:
持非制冷型、TEC半导体制冷型双版本选配,适配不同精度、不同预算测试场景
可选吸收光谱:
模块化设计,可扩展吸收光谱检测功能

技术参数
项目内容 | 信息详情 |
InView-PL | 在线原位荧光光谱仪 |
技术参数
项目内容 | 信息详情 |
荧光光谱: | 450nm 激发,600~1100nm 荧光检测波段(可定制) |
吸收光谱: | 400~1100nm |
光谱分辨率(制冷型): | ~5nm |
| 光谱分辨率(非制冷型): | ~10nm |
光斑尺寸: | φ3mm |
激发强度: | 0~0.1Suns 可调 |
工作距离: | ≥10cm |
工况采样速率: | ≥10Hz |
附件: | 匹配旋涂仪、闪蒸仪、退火热台支架定制,高通量测量配件可选 |
软件: | 支持时序荧光、吸收、散射光谱采集,支持外部触发 |
典型应用领域
钙钛矿成膜过程监控 | 钙钛矿量子点合成监控 | 外延片均匀性检测 | 发光材料荧光表征 | |||||
系统配置高信噪比制冷型光谱仪,可在线原位捕捉钙钛矿成膜过程的微弱信号,且在退火阶段仍能获得高保真 PL 信号,为成膜工艺的精准优化提供关键数据支撑。 | 钙钛矿量子点合成中借助原位 PL 监控模块,可精准调控合成反应终点,结合原位吸收光谱采集模块可实现投料的精准稳定控制,最终实现带隙精准、半高宽优异的量子点合成。 | 光致发光是外延片缺陷检测的一个重要方法,InView-PL 具备紫外激发、宽荧光波段覆盖及易搭载的特点,能够很好地适于大部分外延片检测环节。 | 多数发光材料(如钙钛矿、有机发光材料等)在水氧环境呈现不稳定状态,需要在手套箱内进行存留,InView-PL 的紧凑设计使得其可以很方便的在手套箱内进行材料荧光表征工作。 |
案例
显微荧光系统搭建
瞬稳态荧光
微型光谱仪
NOVA
参考文献
建议标注文字:InView-PL spectrometer, ideaoptics, China // Thanks for your support!