ARMS
显微角分辨光谱仪
最小 0.1° 角分辨
400~1650nm 超宽谱段
微米级样品
基于 FT-ARS 技术
微米量级样品信号采集
Vis-Nir 宽谱段探测能力
多种角分辨光谱测量模式
毫秒级瞬态光谱采集能力
光路系统全自动切换
基于 FT-ARS 技术
采用 FT-ARS 技术获得显微角分辨光谱,基于可溯源标准光栅衍射结果进行准确角度计量定标,可实现高达 0.1° 的角度分辨率;
微米量级样品信号采集
基于显微成像系统架构,同时配置空间选区光阑,支持检测区域的大小缩放、平移、旋转等五维调节;
Vis-Nir 宽谱段探测能力
针对不同波段的像差校正和分波段的双光路消像差设计,可实现 400~1650nm 超宽谱段的显微角分辨光谱检测;
多种角分辨光谱测量模式
通过入射条件和接收条件的组合,可支持包括透射、反射、辐射及散射等9种角分辨光谱测量模式;
毫秒级瞬态光谱采集能力
采用 FT-ARS 技术配合成像 CCD,对角分辨光谱进行拍摄式高光谱采集,采集时间可以压缩为毫秒级(~ms);
光路系统全自动切换
光机系统采用全电动切换模块,既支持全角度、定角度、透射、反射等测量模式自动切换,又支持 Vis 和 Nir 波段双通道自动切换。此外,ARMS 预留外部光源引入、信号输出接口,可接入外部光源和显微光谱输出等模块,支持样品在低温环境下的角分辨光谱测试。
技术参数
技术参数
型号 | 信息详情 |
ARMS: | 显微角分辨光谱仪 |
系统性能
项目内容 | 信息详情 |
测量模式: | FAR | 全角度发射反射模式;FAT | 全角度发射透射模式;CAR | 定角度入射反射模式;CAT | 定角度入射透射模式;FrS | 前散射模式;BaS | 背散射模式;Rad | 发光模式;Pgm | 编程模式;FrA | 自由角度模式 |
光谱波段: | 400~1050nm(可见); 900~1650nm(近红外) |
| * 实际波段以产品配置为准 |
波长分辨率: | - |
可见波段微型光谱仪: | 2.5nm |
近红外波段微型光谱仪: | 6.88nm |
可见 & 近红外成像光谱仪: | 1.5nm(基于 150g/mm 光栅) |
| * 实际波长分辨率以产品配置为准 |
反射入射角度范围: | -60°~60°(可见),-50°~50°(近红外) |
透射入射角度范围: | -50°~50°(可见),-50°~50°(近红外) |
接收角度范围及角度分辨率: | -60°~60°(可见),-50°~50°(近红外);0.5°(可见 - 近红外) |
| * 实际角度分辨率以产品配置为准 |
定角度入射角分辨率: | < 5° |
调节维度: | 宽度 W、高度 H、角度 θ |
选区范围: | Φ 10~180 μm |
偏振接口: | 适配 Ø 1 英寸偏振片或 ¼ 波片,适配光谱范围:覆盖 400~1650nm |
定点光源输入接口: | SMA905 外部输出接口,适配激光、氘灯及卤素光源 |
- | * 具体参数与产品配置有关,详情请咨询销售工程师 |
典型应用领域
BICs | PCSEL | 光-物质强耦合 | ||
连续域束缚态(Bound states in the continuum, BICs)是一种特殊的不与辐射谱耦合的局域态,在光子能带中可观察到角度范围很窄的“劈裂”,这需要对光子能带进行直观而精细的角分辨光谱表征。 | 光子晶体激光器(Photonic Crystal Surface Emitting Laser, PCSEL)泵浦后光子能带会发射荧光,且大于阈值时 Γ 处点会垂直出射激光,因此需要对荧光模式和激光出射进行精细的角分辨光谱表征。 | 光与物质强耦合会产生具有拉比分裂的混合态,混合态色散特性是研究这类问题的关键,需要通过显微角分辨光谱对其进行表征。 |
应用
案例
参考文献
建议标注文字:ARMS, Angle-Resolved Micro-Spectrometer, ideaoptics, China // Thanks for your support!