MetronFilm-MS
显微反射膜厚测量仪
微区膜厚表征
最小光斑5μm
超宽测量范围 2nm~60μm*,微区测量也可做到从超薄膜至厚膜达到超广覆盖。
溯源NIST,测量准确性有保证
先进的拟合算法,适用多种先进工艺,可测晶圆单/多层膜的厚度和n&k
微光斑技术结合补偿算法消除背反射(测量透明样品)
可视化样品对准,方便微区测量
拟合速度快,检测耗时数量级下降
超宽测量范围 2nm~60μm*,微区测量也可做到从超薄膜至厚膜达到超广覆盖。
溯源NIST,测量准确性有保证
先进的拟合算法,适用多种先进工艺,可测晶圆单/多层膜的厚度和n&k
微光斑技术结合补偿算法消除背反射(测量透明样品)
可视化样品对准,方便微区测量
拟合速度快,检测耗时数量级下降
技术参数
技术参数
技术参数 | 参数指标 |
波长范围 | 可选190 - 1100nm或380-1100nm |
光源 | 卤素灯+氘灯 或 卤素灯 |
5X物镜厚度测量范围* | 15nm-60μm@VIS |
10X物镜厚度测量范围*1 | 15nm-60μm@VIS,2nm-60μm@UV+VIS |
15X物镜厚度测量范围*1 | 15nm-60μm@VIS,2nm-60μm@UV+VIS |
50X物镜测量范围* | 20nm-2μm@VIS |
测量n和 k厚度要求* | 50nm |
准确度* : | 2nm@≦1000nm,或0.2%@≧1000nm2 |
精度3 | 0.02nm2 |
稳定性4 | 0.05nm2 |
样品尺寸 | 最大300mm |
微区显示 | 支持 |
* 取决于材料
1. 反射式物镜(紫外扩展)
2. 50X物镜暂时无法满足
3. 在连续 5 天内,对 1μm 厚的硅基二氧化硅(SiO₂-on-Si)薄膜每日进行 100 次测量,此值为这些每日平均值的标准偏差值的平均值(1σ)
4. 在连续 5天内,对 1μm 厚的硅基二氧化硅(SiO₂-on-Si)薄膜每日进行 100 次测量,此值为这些每日平均值的 2 倍标准差(2σ)
应用领域
半导体制程 | 显示面板 | |||
微小区域内工艺薄膜膜厚和光学常数检测、电介质薄膜膜厚和光学常数检测,等等。例如:分立光电器件、LED 芯片、激光芯片、PD / 光电探测器上的电极区介质膜、增透膜等;又例如微型传感器芯片、MEMS 器件的表面薄膜、钝化膜、绝缘膜等的微小区域薄膜的厚度及其光学常数精密快速检测。 | LCD/OLED面板、手机盖板、TP、显示模组、摄像头里,有大量微米级的图案化、窄条、微区的区域膜厚测量的要求。包括: |
精密光学元件 | 生命科学 | ||
在生态研微型透镜、棱镜、光学滤光片、微型窗口片(镀膜仅局部区域)的膜厚检测,还有光纤端面、光纤头、光芯片端面镀膜的微小区域膜厚及其光学常数检测;另外还有大量曲面镜、球面镜的测定需要小光斑测量其弧面的膜层。究和农业管理中,太阳诱导叶绿素荧光(SIF)测试信号非常微弱,需要光谱仪具备足够高的光谱分辨率才能进行解析 | 医疗器械微型组件、内窥镜微小镜头等的镀膜厚度及光学常数无损检测;医疗设备或其它生物医学器械防腐蚀涂层(例如心脏支架、注射器涂层、器械腔体零件涂层等)的厚度无损检测、钝化和/或药物输送涂层的厚度无损检测,药物载体或控释屏障如可降解高分子薄膜等的厚度无损检测,等等。 |
应用
案例
钙钛矿激光器
瞬稳态荧光
分析仪器
gora
钙钛矿激光器
瞬稳态荧光
分析仪器
gora
参考文献
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