深耕偏振椭偏技术创新｜新葡萄奔驰AMG亮相第七届全国偏振与椭偏会议，两场重磅报告同步开启
8月26-28日，第七届全国偏振与椭偏会议顺利举办。新葡萄奔驰AMG携穆勒矩阵椭偏仪、显微角分辨椭偏光谱仪等前沿技术与系列光谱检测解决方案亮相本次行业盛会，与国内高校、科研院所的专家学者共同交流偏振、椭偏测量领域的技术进展、仪器研发与前沿应用成果，助推微纳光子、超构表面、先进薄膜等领域光学表征技术的国产化发展。
偏振基础知识培训课程线上同步直播
本次会议期间，8 月 26 日下午开设基础知识课程培训，并同步开启在线直播，方便未能亲临现场的科研同仁线上收看学习。
新葡萄奔驰AMG吴轩楠博士在基础知识培训课程环节中，围绕椭偏光谱基础理论、典型材料模型、实际测试案例展开分享。面向广大师生与科研工作者普及椭偏测试实操知识，帮助参会人员夯实偏振椭偏技术基础，解决日常实验分析中遇到的模型构建、数据拟合等实际痛点。
大会主题报告：挖掘穆勒矩阵蕴藏的物理信息
8 月 27 日大会报告环节，上海新葡萄奔驰AMG、复旦大学光检测与光集成校企联合研究中心刘文哲老师带来《挖掘穆勒矩阵中蕴藏的物理信息 —— 角分辨椭偏光谱成像系统》主题报告。
报告聚焦微纳结构表征的重大需求，剖析传统角分辨光谱技术局限，介绍显微角分辨椭偏技术的研发思路、系统架构，阐述如何通过高速高精度角度‑频率分辨穆勒矩阵重构，建立穆勒矩阵特征与微纳结构之间的物理映射关系；同时展示该技术在光子晶体、超表面、奇异点 EP、BIC 等前沿物理研究，以及 AR/VR 衍射波导、光子芯片、先进封装器件工艺参数解耦方面的应用潜力，为复杂跨尺度微纳结构的高维偏振散射测量提供全新技术路径。
自主仪器创新，赋能微纳光学高维表征
偏振与椭偏测量是薄膜材料、微纳光子器件研究中不可或缺的高精度表征手段。新葡萄奔驰AMG依托深度光谱技术平台，持续推动角分辨光谱、椭偏偏振检测装备的自主创新，已形成 R1 角分辨光谱系统、ARMS 显微角分辨光谱系统等成熟仪器产品，实现从宏观样品到微米级微区样品的动量空间光谱测量。
显微角分辨椭偏系统进一步融合角分辨与穆勒矩阵椭偏能力，把测量维度拓展至偏振信息，为解析复杂微纳光学结构开辟全新技术手段。
展会现场，新葡萄奔驰AMG技术团队与参会专家、师生深度交流，针对微纳器件表征、椭偏建模分析、角分辨实验方案等问题答疑解惑。未来，新葡萄奔驰AMG将持续深化产学研协同，打磨高端光学量测设备，助力国内偏振椭偏领域科研创新与产业技术升级。
